Test de simulator

Shenzhen Shenchuang Hi-tech Electronics Co., Ltd(SCHitec) este o întreprindere de înaltă tehnologie specializată în producția și vânzarea de accesorii pentru telefon. Produsele noastre principale includ încărcătoare de călătorie, încărcătoare de mașină, cabluri USB, bănci de alimentare și alte produse digitale. Toate produsele sunt sigure și de încredere, cu stiluri unice. Produsele trec certificate precum CE, FCC, ROHS, UL, PSE, C-Tick, etc. , Dacă sunteți interesat, puteți contacta direct ceo@schitec.com.

Încărcați-vă în siguranță cu SChitec

Test de simulator

Testați cu OP AMP. Conceptul de „Pământ virtual” din punctul „a” este următorul:

Ix=Iref

∴Rx {{0}} Vs/ V0*Rref

Vs și rref sunt sursa de semnal de excitație și, respectiv, rezistența de calcul a instrumentului. Dacă se măsoară V0, RX poate fi calculat.

Dacă Rx care trebuie măsurat este capacitatea și inductanța, atunci sursa de semnal vs AC, Rx este forma de impedanță și C sau l pot fi, de asemenea, calculate.

1.2 paza

Metoda de testare de mai sus este pentru dispozitive independente, dar dispozitivele din circuitul real sunt conectate și interacționează între ele, astfel încât reful IX 笽 trebuie izolat în timpul testului. Izolarea este tehnologia de bază a testării online.

În circuitul superior, din cauza derivației de conectare a lui R1 și R2, ecuația lui IX 笽 ref, RX=vs / V0 * rref nu este validă. În test, atâta timp cât G și F sunt la același potențial, nu există curent care curge prin R2 și există încă ecuația lui IX=Iref, RX rămâne neschimbată. Când punctul G este împământat, izolarea poate fi realizată deoarece punctul f este practic împământat și potențialul a două puncte este egal. În practică, G și F sunt echipotențiale printr-un amplificator operațional izolat. Testerul ICT poate oferi multe puncte de izolare pentru a elimina influența circuitului periferic asupra testului.

1.2 Test IC

Pentru IC digital, utilizați testul vectorial. Testul vectorial este similar cu măsurarea tabelului de adevăr, care excită vectorul de intrare, măsoară vectorul de ieșire și judecă calitatea dispozitivului prin testul funcției logice efective.

De exemplu: Testul porții NAND

Pentru testarea IC analogic, ieșirea corespunzătoare poate fi măsurată în funcție de tensiunea de excitare a funcției reale și curentul IC, care este considerat testul blocului funcțional.

Test non-vector

Odată cu dezvoltarea tehnologiei moderne de producție și utilizarea VLSI, este nevoie de multe ori de mult timp pentru a scrie programul de testare vectorială a dispozitivelor, cum ar fi programul de testare 80386, care durează aproape jumătate de an pentru un programator calificat. Odată cu aplicarea extinsă a dispozitivelor SMT, fenomenul de defecțiune al circuitului deschis al pinii dispozitivului devine mai proeminent. Din acest motiv, Teradyne a lansat tehnologia de testare non-vectorală Xpress, care este introdusă de Multiscan; GenRad.

Tehnologia de testare a joncțiunii analogice 2.1 delta scan

Deltascan folosește protecția ESD sau diode parazitare pe care aproape toți pinii dispozitivelor digitale și majoritatea pinii dispozitivelor cu semnal mixt pentru a testa curentul DC al perechilor de pini independente ale dispozitivelor testate. Când alimentarea unei plăci este întreruptă, circuitul echivalent al oricăror doi pini de pe dispozitiv este prezentat în figura de mai jos.

1.adăugați o tensiune negativă la masă pe pinul a, iar curentul ia trece prin dioda de polarizare directă a pinului a. Măsurați curentul ia prin pinul a.

2 menține tensiunea pinului a, adaugă o tensiune negativă mai mare la pinul B, iar curentul IB curge prin dioda de polarizare directă a pinului B. Curentul IA este redus datorită partajării curentului în cadrul rezistenței substratului comun de la pinul a și pinul B la masă.

3 Măsurați din nou curentul ia prin pinul a. Dacă ia nu se modifică (delta) când tensiunea este aplicată pinului B, trebuie să existe o problemă de conexiune.

Software-ul Deltascan sintetizează rezultatele testelor obținute din multe perechi posibile de pini de pe dispozitiv, astfel încât să se obțină un diagnostic precis al defecțiunilor. Pinul de semnal, sursa de alimentare și pinul de împământare și substratul participă toate la testul deltascan, ceea ce înseamnă că, pe lângă deconectarea pinului, deltascan poate detecta și defecte de fabricație, cum ar fi lipsa dispozitivului, inserarea inversă și deconectarea cablului.

Testele de tip GenRad sunt numite joncțiune Xpress. De asemenea, utilizează caracteristicile diodei din IC, dar testul se realizează prin măsurarea caracteristicilor spectrului (armonica a doua) ale diodei.

Tehnologia Deltascan este prima tehnologie fără hardware de fixare suplimentar.

2.2 test de cuplare de capacitate a framescan

Framescan folosește cuplarea capacității pentru a detecta deconectarea pinii. Fiecare dispozitiv are o sondă capacitivă pe el. Când un pin excită semnalul, sonda capacitivă preia semnalul. După cum se arată în figură:

1. Placa de comutare multicanal de pe dispozitiv selectează sonda capacitivă de pe un dispozitiv.

2 placa de testare analogică (ATB) din tester trimite semnalul AC la fiecare pin pe rând.

3. Sonda capacitivă colectează și tamponează semnalul AC pe pinul testat.

4 ATB măsoară semnalul AC captat de sonda capacitivă. Dacă un pin este conectat corect la placa de circuit, semnalul va fi măsurat; dacă pinul este deconectat, nu va exista niciun semnal.

Tehnologia similară GenRad se numește open Xpress. Principiul este similar.

Acest dispozitiv tehnic are nevoie de senzori și alt hardware, iar costul testului este puțin mai mare.